X-Rite CiF3200 – attēlveidošanas krāsu spektrofotometrs

X-Rite CiF3200 ir kompakts laboratorijas attēlveidošanas spektrofotometrs precīzai mazu, neregulāras formas un daudzkrāsainu paraugu krāsu mērīšanai. Instruments apvieno d/8° integrējošās sfēras tehnoloģiju ar digitālu attēlveidošanu, nodrošinot virtuāli regulējamu mērīšanas laukumu no 2 līdz 12 mm, precīzu paraugu pozicionēšanu un vairāku krāsu noteikšanu vienā mērījumā.

SKU: 1946564-G25KS-1-1 Kategorija:
Zīmols: Xrite
Apraksts

X-Rite CiF3200 ir kompakts laboratorijas spektrofotometrs, kas paredzēts precīzai krāsu mērīšanai maziem, neregulāras formas un daudzkrāsainiem paraugiem, tostarp materiāliem ar augstu virsmas spīdumu.

Instruments apvieno d/8° sfēras tipa spektrofotometriju ar digitālu attēlveidošanas tehnoloģiju, ļaujot izvēlēties mērīšanas laukumu tieši parauga attēlā un analizēt vairākas krāsas viena mērījuma ietvaros.

CiF3200 galvenās priekšrocības:

  • Virtuāli regulējams mērīšanas laukums no 2 līdz 12 mm.
  • Precīza mērīšanas vietas izvēle, izmantojot parauga attēlu datora ekrānā.
  • Automātiska vairāku krāsu noteikšana vienā paraugā.
  • Vienlaicīga SPIN/SPEX mērīšana virsmas spīduma ietekmes novērtēšanai.
  • Mērījumu attēlu saglabāšana rezultātu izsekojamībai.
  • Augsta mērījumu atkārtojamība un instrumentu savstarpējā saskaņotība.
  • Savietojamība ar X-Rite Color iQC krāsu kvalitātes kontroles programmatūru.

CiF3200 ir īpaši piemērots gadījumiem, kad tradicionālo spektrofotometru fiksētās apertūras un mērīšanas laukuma pozicionēšana ierobežo mazu vai sarežģītu paraugu krāsu kontroli.

Pielietojumi

X-Rite CiF3200 ir piemērots precīzai krāsu kontrolei maziem, daudzkrāsainiem un sarežģītas formas izstrādājumiem dažādās nozarēs:

  • Plastmasas un polimēri – mazu plastmasas detaļu, pogu, korpusu un daudzkrāsainu izstrādājumu krāsu kontrole.
  • Elektronikas rūpniecība – elektronisko ierīču korpusu, vadības elementu un citu nelielu komponentu krāsu atbilstības pārbaude.
  • Metāli un pārklājumi – nelielu metālisku, krāsotu un augsta spīduma virsmu krāsu novērtēšana.
  • Pulksteņu un juvelierizstrādājumu ražošana – ciparnīcu, korpusu un dekoratīvo elementu krāsu kontrole.
  • Tekstilrūpniecība – daudzkrāsainu audumu, rakstu un nelielu tekstila elementu krāsu mērīšana.
  • Poligrāfija un iepakojums – mazu apdrukātu laukumu, grafisko elementu un daudzkrāsainu virsmu krāsu kontrole.

Īpaši noderīgs gadījumos, kad vienā paraugā nepieciešams atsevišķi novērtēt vairākas krāsas vai precīzi izvēlēties nelielu mērīšanas laukumu.

Darbības princips

X-Rite CiF3200 apvieno d/8° integrējošās sfēras spektrofotometriju ar digitālu attēlveidošanas tehnoloģiju.

Integrējošā sfēra nodrošina vienmērīgu parauga apgaismošanu no dažādiem virzieniem, samazinot virsmas tekstūras un mērīšanas virziena ietekmi uz rezultātu. Instruments vienlaikus iegūst mērījumu datus ar iekļautu (SPIN) un izslēgtu (SPEX) spoguļatstarošanas komponenti, ļaujot novērtēt arī virsmas spīduma ietekmi uz krāsu.

Attēlveidošanas tehnoloģija nodrošina vairākas būtiskas priekšrocības:

  • Virtuālā apertūra – lietotājs programmatūrā var izvēlēties mērīšanas laukumu no 2 līdz 12 mm bez nepieciešamības mehāniski mainīt apertūras.
  • Precīza pozicionēšana – parauga attēls tiek parādīts datora ekrānā, ļaujot izvēlēties konkrētu mērīšanas vietu.
  • Daudzkrāsu analīze – attēlveidošanas sistēma spēj automātiski atdalīt dažādas krāsas viena parauga ietvaros un iegūt to mērījumu rezultātus.
  • Mērījumu izsekojamība – kopā ar krāsu datiem iespējams saglabāt arī parauga attēlu, dokumentējot mērīšanas vietu.

Spektrofotometrs nosaka parauga spektrālo atstarošanu redzamās gaismas diapazonā, no kuras tiek aprēķinātas krāsu koordinātas un krāsu atšķirības (ΔE).

Šī tehnoloģija ir īpaši noderīga maziem, daudzkrāsainiem, neregulāras formas vai spīdīgiem paraugiem, kuru precīza mērīšana ar tradicionālajiem spektrofotometriem ir apgrūtināta.

Tehniskie parametri
Parametrs CiF3200
Mērīšanas ģeometrija d/8°, integrējošā sfēra
Mērīšanas režīmi SPIN / SPEX (SCI / SCE), vienlaicīgi
Spektrālais diapazons 400–700 nm
Spektrālais intervāls 10 nm
Mērīšanas laukums 2–12 mm, virtuāli regulējams
Apgaismotā laukuma diametrs 16 mm
Gaismas avots LED
Atkārtojamība (baltais etalons) 0,025 ΔE*ab (SPIN)
Instrumentu savstarpējā saskaņotība Vidēji 0,15 ΔE*ab (SPIN)
Mērījuma ilgums 15 s
Attēlveidošana Digitāla kamera, mērīšanas vietas izvēle ekrānā
Daudzkrāsu analīze Automātiska krāsu atdalīšana
Savienojums USB
Barošana 100–240 V AC
Darba temperatūra 10–40 °C
Izmēri (P × A × D) Aptuveni 210 × 254 × 254 mm
Svars Aptuveni 4 kg
Konfigurācija

X-Rite CiF3200 ir kompakts stacionārs spektrofotometrs, kas paredzēts darbam kopā ar datoru un krāsu kvalitātes kontroles programmatūru.

Programmatūra un papildu risinājumi:

  • X-Rite Color iQC – krāsu kvalitātes kontroles programmatūra etalonu un paraugu salīdzināšanai, krāsu atšķirību analīzei un rezultātu dokumentēšanai.
  • X-Rite NetProfiler – instrumentu veiktspējas pārbaudei un mērījumu savstarpējās saskaņotības uzlabošanai.
  • Digitālie krāsu etaloni – iespēja veidot un izmantot krāsu standartus kvalitātes kontrolei dažādās ražotnēs vai piegādātāju uzņēmumos.
  • Mērījumu attēlu saglabāšana – vizuālai mērīšanas vietas dokumentēšanai un rezultātu izsekojamībai.
  • Programmatūras integrācija – iespēja integrēt instrumentu citās sistēmās, izmantojot ražotāja programmatūras izstrādes rīkus (SDK).
Dokumentācija

CiF3200 Datu Lapa

Saistītie produkti